Prosím čekejte...
Nepřihlášený uživatel
logo VŠCHT
iduzel: 30011
idvazba: 38199
šablona: api_html
čas: 9.8.2020 20:14:03
verze: 4671
uzivatel:
remoteAPIs: https://cis-web-test.vscht.cz/studijni-system/
branch: trunk
Obnovit | RAW

Spektroskopické metody studia pevných látek

Přednáška Cvičení/laboratoř
2019, letní semestr
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
Po
Út
St
Čt
Examinace zkouška
Jazyk výuky čeština
Úroveň doktorský předmět
Garant prof. RNDr. Ondrej Gedeon, Ph.D., DSc.

Anotace

Předmět zahrnuje metody elektronové, rentgenové a iontové spektroskopie, elektronové a hrotové mikroskopie a detektory a analyzátory. Důraz je kladen na principy spektroskopických metod a teoretický popis významných fyzikálních jevů se spektroskopiemi souvisejícími.

Sylabus

Spektrum, účinný průřez, vlastnosti záření a částic. Pružný a nepružný rozptyl, Comptonův rozptyl, fotoefekt.
Fyzika atomu, elektron-elektronová a spin-orbitální interakce, štěpení spektrálních čar. Elektronové a atomové hladiny, výběrová pravidla, energetická struktura pevné látky, Blochovy funkce. Kvantové tunelování.
Transmisní elektronová mikroskopie, princip, typy kontrastů, příprava vzorků.
Rastrovací elektronová mikroskopie, princip, odražené a sekundární elektrony, příprava vzorků.
Rtg. mikroanalýza, princip, korekční metody.
Rtg fluorescence, princip, korekční metody.
Povrch - vznik, struktura a vlastnosti. XPS a UV XPS, princip, satelitní čáry, úhlově rozlišená spektroskopie.
Augerova spektroskopie, princip, Augerova mikroskopie.
SIMS pro pevnou fázi, rozptyl iontů, kinematický faktor, rozprašovací výtěžnost, SNMS.
PIXE, RBS a další iontové spektroskopie, rozptyl nízkoenergetických iontů.
Hrotové metody, principy. STM, AFM, SNOM.
Difrakce fotonů, elektronů a neutronů. Strukturní faktor. LEED, EBSD, XRD, ND.
Vakuum a vakuová zařízení. Detektory a analyzátory. Ionizační komora, krystalový spektrometr, polovodičový detektor, scintilátor, hemisférický analyzátor, kvadrupól, TOF.

Literatura

Z: A. Beiser, Úvod do moderní fyziky, Academia, 1975,104-21-852
Z: Y. Leng, Materials characterization, Wiley, 2008,ISBN 978-0-470-82298-2
Z: R.F. Egerton, Physical principles of electron microscopy, Springer, 2006, ISBN-13: 978-0387-25800-0
Z: L. Eckertová, Metody analýzy povrchů, elektronová spektroskopie, Academia, 1990, ISBN 80-200-0261-8
D: Vybrané publikace a webové odkazy

VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum

VŠCHT Praha
na sociálních sítích
zobrazit plnou verzi