Prosím čekejte...
Nepřihlášený uživatel
logo VŠCHT
iduzel: 30011
idvazba: 38199
šablona: api_html
čas: 4.6.2020 22:05:57
verze: 4671
uzivatel:
remoteAPIs: https://cis-web-test.vscht.cz/studijni-system/
branch: trunk
Obnovit | RAW

Metody charakterizace látek

Přednáška Cvičení/laboratoř
2019, letní semestr
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
Po
Út
St
Čt
Kredity 5
Rozsah 3 / 1 / 0
Examinace Z+Zk
Jazyk výuky čeština
Úroveň []
Garant prof. RNDr. Ondrej Gedeon, Ph.D., DSc.

Anotace

Předmět seznamuje se základními mikroskopickými a spektroskopickými metodami používanými pro charakterizaci materiálů. Součástí předmětu je vybudování základního energetického obrazu atomů, molekul a pevných látek, fyzikální principy metod, provázání metod s přístroji a příprava vzorků.

Sylabus

None

Literatura

Z: A. Beiser, Úvod do moderní fyziky, Academia, 1975,104-21-852
Z: Y. Leng, Materials characterization, Wiley, 2008,ISBN 978-0-470-82298-2
D: R.F. Egerton, Physical principles of electron microscopy, Springer, 2006, ISBN-13: 978-0387-25800-0
D: L. Eckertová, Metody analýzy povrchů, elektronová spektroskopie, Academia, 1990, ISBN 80-200-0261-8


VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum

VŠCHT Praha
na sociálních sítích
zobrazit plnou verzi