Prosím čekejte...
Nepřihlášený uživatel
logo VŠCHT
iduzel: 30011
idvazba: 38199
šablona: api_html
čas: 1.6.2020 13:48:04
verze: 4664
uzivatel:
remoteAPIs: https://cis-web-test.vscht.cz/studijni-system/
branch: trunk
Obnovit | RAW

RTG fázová analýza II

Přednáška Cvičení/laboratoř
2019, letní semestr
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
Po
Út
St
Čt
Kredity 4
Rozsah 2 / 1 / 0
Examinace Z+Zk
Jazyk výuky čeština
Úroveň []
Garant Ing. Jan Čejka, Ph.D.
RNDr. Jaroslav Maixner, CSc.

Anotace

Cílem předmětu je seznámit posluchače s několika speciánějšími aplikacem rtg práškové difrakční analýzy - indexace práškového difraktogramu, Rietveldova analýza s aplikací na kvantitativní práškovou analýzou, stanovení amorfního podílu, stanovení velikosti krystalitů. Posluchači se naučí pokročilejší funkce programu HighScore Plus.

Sylabus

Posluchači si vybírají z uvedených úloh k řešení:
1. Výpočet teoretického difraktogramu na základě souboru *.CIF, program HighScore Plus.
2. Aplikace Rietveldovy metody pro kvantitativní fázovou analýzu.
3. Stanovení amorfního podílu v práškovém vzorku.
4. Stanovení velikosti krystalitů, Hall-Williamson graf.
5. Vyhledávání v databázi anorganických struktur ICSD.
6. Vyhledávání v databázi organických struktur CSD.
7. Grafické zobrazení struktur -programy Mercury a Ortep.

Literatura

None

VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum

VŠCHT Praha
na sociálních sítích
zobrazit plnou verzi