Prosím čekejte...
Nepřihlášený uživatel
logo VŠCHT
iduzel: 30011
idvazba: 38199
šablona: api_html
čas: 10.8.2022 04:41:27
verze: 5054
uzivatel:
remoteAPIs: https://cis-web-test.vscht.cz/studijni-system/
branch: trunk
Obnovit | RAW
Data pro 2016/2017

Metody charakterizace látek

Kredity 5
Rozsah 3 / 1 / 0
Examinace Z+Zk
Jazyk výuky čeština
Úroveň bakalářský předmět
Garant prof. RNDr. Ondrej Gedeon, Ph.D., DSc.

Anotace

Předmět seznamuje se základními mikroskopickými a spektroskopickými metodami používanými pro charakterizaci materiálů. Součástí předmětu je vybudování základního energetického obrazu atomů, molekul a pevných látek, fyzikální principy metod, provázání metod s přístroji a příprava vzorků.

Sylabus

1. Spektrum a jeho podstata, spektroskopické a mikroskopické metody, účinný průřez, vlastnosti záření a částic.
2. Pružný a nepružný rozptyl, Comptonův rozptyl, fotoefekt.
3. Kvantová mechanika atomu, vodíkový atom, elektron-elektronová a spin-orbitální interakce, štěpení spektrálních čar.
4. Elektronové hladiny, atomové termy, výběrová pravidla, energetická struktura pevné látky, Blochovy funkce. Kvantové tunelování.
5. Transmisní elektronová mikroskopie, typy kontrastů, bright-field a dark-field pozorování, příprava vzorků.
6. Rastrovací elektronová mikroskopie, kontrast, odražené a sekundární elektrony, příprava vzorků.
7. Rtg. mikroanalýza, EDS a WDS uspořádání, princip, kvalitativní a kvantitativní analýza, korekční metody, mapování. Rtg fluorescence.
8. Vznik, struktura a vlastnosti povrchů, fotoelektronová spektroskopie, princip, satelitní čáry, úhlově rozlišená spektroskopie, ultrafialová fotoelektronová spektroskopie. Augerova spektroskopie, princip, Augerova mikroskopie.
9. Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů pro pevnou fázi, rozptyl iontů, kinematický faktor, rozprašovací výtěžnost, pravděpodobnost ionizace, hloubkové profilování, SNMS
10. Iontové metody, kanálování, metoda PIXE, spektroskopie odražených iontů, rozptyl nízkoenergetických iontů.
11. Hrotové metody, princip. Tunelovací mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, optická mikroskopie v blízkém poli.
12. Difrakční metody, difrakce fotonů, elektronů a neutronů. Strukturní faktor. LEED a EBSD, neutronová difrakce, rtg. difrakce, prášková difrakce.
13. Vakuum a vakuová zařízení. Měření vakua, vakuové pumpy. Zdroje částic: fotonové, elektronové, iontové, neutronové.
14. Detektory a analyzátory. Ionizační komora, krystalový spektrometr, polovodičový detektor, scintilátor, hemisférický analyzátor, kvadrupól, TOF analyzátor, další detektory a analyzátory.

Literatura

Z: A. Beiser, Úvod do moderní fyziky, Academia, 1975,104-21-852
Z: Y. Leng, Materials characterization, Wiley, 2008,ISBN 978-0-470-82298-2
D: R.F. Egerton, Physical principles of electron microscopy, Springer, 2006, ISBN-13: 978-0387-25800-0
D: L. Eckertová, Metody analýzy povrchů, elektronová spektroskopie, Academia, 1990, ISBN 80-200-0261-8


VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum

VŠCHT Praha
na sociálních sítích
zobrazit plnou verzi